前幾期，我們介紹了我司代理的日本東京精密、大阪精密的產品和相關知識。本期我們帶大家了解一下日本堀場HORIBA的SZ-100V2系列納米顆粒分析儀。
株式會社堀場制作所 (HORIBA, Ltd.)創立于1953年，自成立以來，堀場制作所已經成長為一個主要的分析檢測儀器和設備制造商，并且以其高精尖的產品成功地將市場拓展到了全球各個國家和地區。堀場的產品幾乎應用于所有的工業領域企業中的產品研發和質量控制，包括汽車、半導體、新材料、能源、冶金、食品加工以及科學研究等領域。
日本堀場HORIBA SZ-100V2系列納米顆粒分析儀在生物制藥（藥物輸送系統、診斷學、蛋白質表征、DNA基因治療、疫苗、多聚物）、納米技術（量子、納米銀、納米金剛石）、涂料（顏料分散/油漆、炭黑分散、打印機噴墨配方、聚合物）、化工（陶瓷、表面活性劑、聚合物體系、硅溶膠、微乳）等多個領域都有廣泛的應用。
SZ-100V2系列納米顆粒分析儀機型體積簡潔小巧，擁有超高的智能化和學習能力，可以快速對納米顆粒進行多參數分析，確定納米粒子的特性。同時實現對納米粒子三項參數的表征：粒徑，Zeta電位和分子量。
● 粒徑測量（范圍 0.3nm ~ 10μm）
SZ-100V2 系列采用動態光散射原理(DLS) 測量粒徑大小及分布，實現了超寬濃度范圍的樣品測量，不論濃度是ppm 級還是高達百分之幾十，均可準確測量。可使用市售樣品池。測量微量樣品也極為方便。
● Zeta 電位測量( 范圍?500 ~+500mV)
使用HORIBA 獨特的微量樣品池，樣品量僅需100 μL。通過Zeta 電位值可以預測及控制分散體系的穩定性。
Zeta 電位越高意味著分散體系越穩定，對于配方研究工作意義重大。
● 分子量測量（范圍 1×103 ~ 2×107）
通過測量不同濃度樣品的靜態散射強度并通過德拜記點法計算絕對分子質量(Mw) 和第二維利系數(A2)。
不同于其他品牌，HORIBA SZ-100V2系列納米顆粒分析儀有以下優勢：
● 可測量的樣品濃度范圍很廣，所以幾乎無需對樣品進行稀釋和其他處理。獨特的雙光路系統(90°和173° ) 設計，既能對高濃度樣品進行測量，如釉漿和顏料，也能測量低濃度樣品，如蛋白質和聚合物。
● 將表征納米粒子的三大參數的測量融于一體：粒子直徑、Zeta 電位和分子量。
● HORIBA 開發的一次性Zeta 電位測量樣品池可杜絕樣品污染。專用超微量樣品池( 最小容量100 μL) 簡單易用，且適合分析稀釋的樣品。
● HORIBA 研發的Zeta 電位專用石墨電極，可用于測量強腐蝕性的高鹽樣品。
對于使用者最關心的操作問題，SZ-100V2也給出了很好的表現：該機型操作簡單，使用者只需選擇測量模式 ( 粒徑、Zeta 電位或者分子量 )，測量界面出現后放進樣品即可開始測量。
主流機型介紹
日本堀場HORIBA的SZ-100V2系列機型組合配置豐富，本篇列舉SZ-100-S和SZ-100-Z這兩個機型部分參數供大家參考。
SZ-100-S可測量粒徑測量和分子量，SZ-100-Z粒徑和分子量測量參數與SZ-100-S一致，增加了zeta電位測量單元。
關于日本堀場HORIBA SZ-100V2系列納米顆粒分析儀的簡要介紹就告一段落。如果您感興趣，歡迎和我們做進一步的交流。聯系電話：0755-23998630
下一期，我們將介紹HORIBA的另一款產品：激光粒度分析儀LA-960V2。期待您的持續關注。
