亚洲色图视频网站/毛片直播视频/国产精品视频1区/国产亚洲一区二区av - 国产精品国产三级国产不产一地

X射線熒光鍍層厚度測量儀 FT110系列
2018-3-12 16:24:20

0.png

1.即放即測! 2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量! 3.可無標樣測量! 4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置!




主要特點

通過自動定位功能提高操作性


測量樣品時,以往需花費約10秒的樣品對焦,現在3秒內即可完成,大大提高樣品定位的操作性。


 微區膜厚測量精度提高


通過縮小與樣品間的距離等,致使在微小準直器(0.10.2mm)下,也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。


 多達5層的多鍍層測量


使用薄膜FP法軟件,即使沒有厚度標準片也可進行多達510元素的多鍍層測量。


 廣域觀察系統(選配)


可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。


 對應大型印刷線路板(選配)


可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。


 低價位


與以往機型相比,既提高了功能性又降低20%以上的價格。


上一篇:沒有啦
下一篇:X射線熒光元素分析儀 EA6000VX